28–29 октября 2025 года в Дальневосточном геологическом институте ДВО РАН прошел двухдневный научно-практический семинар "Сканирующая электронная микроскопия в России сегодня. Обзор доступных решений и выбор оптимального оборудования".
Инициатива организации мероприятия исходила от лаборатории микро- и наноисследований института, а его проведение осуществила компания ООО «ИНСКАН» (Москва и Санкт-Петербург) при поддержке ДВГИ ДВО РАН и участии регионального представителя компании ПТФ «Корпус» (Владивосток).
На семинаре собрались специалисты из различных академических, отраслевых институтов и вузов Владивостока и Хабаровска, а также представители ряда организаций разного профиля.
Участники получили возможность ознакомиться с последними достижениями в области сканирующей электронной микроскопии (SEM), рентгеноспектрального микроанализа (EDX) и рентгеновской дифрактометрии (XRD).
Специалисты ООО «ИНСКАН» представили обзор инновационных разработок в области автоматизации и программного обеспечения, а также продемонстрировали примеры успешного применения SEM, EDX и XRD в таких областях, как геология, биология, материаловедение и другие.
В первый день семинара обсуждались ключевые вопросы, связанные с состоянием российского рынка сканирующих и просвечивающих электронных микроскопов (SEM и TEM).
Как известно, с 2022 года из-за геополитических и экономических факторов наш рынок столкнулся с изменениями, вызванных санкционным давлением и ограничениями на импорт высокотехнологичного оборудования. В этих условиях российские научные и производственные учреждения активно ищут альтернативные решения, включая продукцию отечественных и азиатских производителей.
Докладчики ООО «ИНСКАН» провели сравнительный анализ ключевых параметров и рассмотрели перспективы интеграции с дополнительными детекторами электронных микроскопов китайских компаний. Их современные модели по техническим характеристикам, таким как разрешение, глубина фокуса и скорость сканирования, не уступают европейским аналогам. В ходе семинара были представлены результаты визитов российских специалистов к ведущим производителям электронной микроскопии в Китае.
Важными аспектами для российских пользователей являются доступность оборудования, вопросы сервисного сопровождения и модернизации. Обсуждались и аспекты гарантийного и постгарантийного обслуживания, обучения персонала, технической поддержки и возможности адаптации оборудования под специфические задачи.
Во время первого дня семинара рассматривались также возможности расширения функциональных возможностей сканирующих электронных микроскопов. Современные SEM — это мощные инструменты для исследования микроструктур с высокой степенью разрешения и детализации. Для достижения максимальной эффективности необходимо использовать расширенный спектр функциональных возможностей, предоставляемых современным оборудованием.
Одним из перспективных направлений является интеграция SEM с программными модулями для рентгеновского микроанализа. Эти модули позволяют проводить количественный анализ элементного состава исследуемых образцов с высокой точностью, что открывает новые возможности в решении задач разной сложности в минералогии, материаловедении и нанотехнологиях. Для повышения информативности исследований используются дополнительные детекторы, такие как энергодисперсионные (EDS), катодолюминесцентные (CL) и для регистрации дифракция вперёд рассеянных электронов (EBSD). Эти детекторы предоставляют данные о распределении элементов, кристаллической структуре и оптических свойствах материалов, что значительно расширяет аналитические возможности.
Для решения специфических задач, таких как исследование биологических образцов, тонких пленок, наноструктур и других объектов, используются специализированные опции. К ним относятся системы нанесения токопроводящих покрытий, установки для сушки в критической точке, методы ультрамикротомии, электролитического утонения и ионной полировки. Эти опции позволяют адаптировать оборудование под конкретные задачи.
Программа второго дня для студентов-геологов ДВФУ была проведена обзорная экскурсия в помещениях кабинетов оптической и электронной микроскопии. Для местных и иногородних специалистов-пользователей была предоставила возможность обсудить решению сложных практических задач по электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа. Занятия в рамках мастер-класса проходили в лаборатории микро- и наноисследований на базе современной модели двухлучевого сканирующего электронного микроскопа TESCAN LYRA 3 XMH (с катодом с термополевой эмиссией типа Шоттки) и энергодисперсионным спектрометром AZtec X-Max 80.
Семинары подобного рода имеют первостепенное значение, особенно для исследователей, работающих в области изучения месторождений Дальнего Востока. Они сталкиваются с рядом трудностей при необходимости участия в центральных научных и образовательных мероприятиях, а также выставках, где представляется новейшее оборудование и передовые методы анализа состава и структуры веществ. Эти трудности включают значительные временные и финансовые затраты на транспортные расходы, а также адаптацию к новым научным парадигмам и методологическим подходам, что требует глубокого погружения в актуальные научные исследования и разработки.
Участие в таких мероприятиях способствует дальневосточным исследователям обмениваться опытом и получать доступ к последним достижениям в области инструментария для минералогии и материаловедения. Это также благоприятствует повышению уровня их научной компетенции и эффективности исследовательской деятельности.