Метод локального анализа изотопного состава серы сульфидов в режиме непрерывного потока гелия с применением короткоимпульсного ультрафиолетового лазера

Разработан метод для локального анализа изотопного состава серы в сульфидах на газовом масс-спектрометре в режиме непрерывного потока гелия с применением короткоимпульсного ультрафиолетового лазера для абляции вещества (рис. )Метод апробирован на международных стандартах IAEA-S-1, IAEA-S-2, IAEA-S-3 и природных образцах пирита, сфалерита, галенита, арсенопирита, халькопирита, пирротина и элементарной серы. Метод позволяет проводить измерения зонального распределения d34S в сульфидах с воспроизводимостью 0,05–0,15 ‰ (1σ) и с латеральным разрешением 80–100 мкм. (Лаборатория стабильных изотопов) 2013

Схема лазерной абляции и выделения SF6 из сульфидов в непрерывном потоке гелия и изменения d34S и d33S в высоковакуумных условиях

Рис. Схема лазерной абляции и выделения SF6 из сульфидов в непрерывном потоке гелия и изменения d34S и d33S в высоковакуумных условиях