30 января 2020 года в конференц-зале Дальневосточного геологического института ДВО РАН компании JEOL и Interactive Corporation (Япония) при участии регионального представителя ПТФ «Корпус» (Владивосток) провели научно-практический семинар «Применение новой модели настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-7000 с интегрированной системой элементного микроанализа».

Приветственное слово участникам семинара прозвучало от директора ДВГИ к.г.-м.н. Александрова И.А. На семинаре также присутствовали Саито Кэнтаро (Saito Kentaro) – директор российского представительства компании JEOL и Ёсинори Шингаки (Yoshinori Shingaki) - генеральный менеджер, начальник отделения по научным и аналитическим приборам Interactive Corporation (Япония).

На семинаре представителем компании Interactive Corporation в России Ильиным Александром была прочитана обзорная лекция «Просвечивающие и сканирующие электронные микроскопы компании JEOL», а также была дана лекция «Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 и его применение», которую прочитал Олег Кулинич – сервисный инженер российского представительства компании JEOL.

В ходе семинара был проведен мастер-класс по работе с настольным сканирующим электронным микроскопом JCM-6000, установленном в лаборатории микро- и наноисследований ДВГИ, и демонстрация возможностей этого микроскопа на образцах участников семинара. Мастер-класс проводили Казутеру Каваучи (Kazuteru Kawauchi) – старший прикладной инженер СЭМ компании JEOL и Олег Кулинич.

Фотогалерея >>>

Лекция «Просвечивающие и сканирующие электронные микроскопы компании JEOL» >>>

Лекция «Настольный сканирующий электронный микроскоп JCM-7000 и его применение» >>>