Кадровый состав лаборатории

КАРАБЦОВ А.А. - 
заведующий  лабораторией, кандидат
геолого-минералогических наук

АФАНАСЬЕВА Т.Б. - 
старший  научный сотрудник

КУРЯВЫЙ В.Г. - 
научный  сотрудник

ПАНИН Е.С. - 
научный  сотрудник

ЕКИМОВА Н.И. - 
научный  сотрудник

НОЗДРАЧЕВ Е.А. - 
младший  научный сотрудник

ЛОТИНА Т.А. - 
младший  научный сотрудник

ДЕМЕШКО И.В. - 
ведущий  инженер

СОРОКА В.П. - 
ведущий  инженер

БОРОВИК И.В. - 
ведущий  инженер

АЗАРОВА Л.И. - 
ведущий  технолог

НОВИКОВА А.П. - 
старший  лаборант-исследователь

ГОРЮХИНА С.М. - 
старший  лаборант-исследователь

ЛАВЫГИНА Н.В. - 
стажер-исследователь

БЫКОВ Д.Н. - 
старший  лаборант

БАБОВА Т.К. - 
старший  лаборант-исследователь

СЕЧЕНСКАЯ Н.И. - 
старший  лаборант-исследователь


АНАЛИТИЧЕСКИЙ ЦЕНТР

Лаборатория
РЕНТГЕНОВСКИХ МЕТОДОВ


          ИСТОРИЯ СОЗДАНИЯ ЛАБОРАТОРИИ

          Лаборатория рентгеновских методов образована в 2002 году объединением секторов рентгенографического анализа, рентгеновского микроанализа и рентгенофлюоресцентного анализа.


          ОСНОВНЫЕ НАПРАВЛЕНИЯ ИССЛЕДОВАНИЙ

          Основной задачей лаборатории является выполнение аналитических работ и обеспечение научно исследовательских работ сотрудников института.
          Совместно с ведущими учёными института ведутся исследования по темам: "Ювелирные камни Дальнего Востока (минералогия и условия образования)", "Экспериментальное моделирование физико-химических условий образования месторождений благородных металлов", "Петрологогеохимическая эволюция неогенчетвертичных базальтов Приморья и проблема сапфироносности базальтов" и др.

          Рентгеноспектральный микроанализ проводится для получения качественного и количественного анализа состава вещества в ограниченном объеме с содержанием анализируемого вещества от 0,01 - 100 мас%. Локальность метода 5 - 10 мкм. Анализируемые элементы от F до U.
          Необходимое количество вещества в анализируемом объеме, для полного химического анализа -10-13 - 10-16 г.
          Качественный анализ включает

  • Изучение фазового состава объекта в отраженных и/или вторичных электронах и в характеристических рентгеновских лучах с выводом на экран или фотографированием.
  • Получение концентрационных профилей распределения химических элементов в зернах и фазах.

          Объекты анализа - твердые вещества: минералы, искусственные соединения, микровключения с вскрытой поверхностью не менее 10 - 15 мкм в поперечнике.

          Требования к препаратам:
  • аншлифы размером не более 25х25 мм, в том числе искусственные - зерна минералов в цементе из эпоксидной смолы или полистирола с полированной поверхностью;
  • прозрачно - полированные шлифы без покрытия.

          Оборудование:

          трехканальный микроанализатор JXA-5A, производство компании Jeol Co Ltd, кристаллы - анализаторы :LiF, PET, RAP. Для расчета концентраций используются программы: альфа-бета коррекции и ZAF коррекции;

          четырехканальный микроанализатор JXA 8100, производство компании Jeol Co Ltd, кристаллы - анализаторы :LiF, PET, TAP, LDE2. Энергодисперсионный спектрометр производства Oxford Instruments позволяет проводить одновременный анализ всех элементов в диапазоне от В до U. Программное обеспечение дает возможность проводить расчеты методами ZAF коррекции и фи-ро-зет методами;

          сканирующий электронный микроскоп LEO EVO 50XVP производство компании LEO, Германия с энергодисперсионной приставкой, позволяющей проводить одновременный анализ вещества в диапазоне от Be до U.

Трехканальный микроанализатор JXA-5A

Четырехканальный микроанализатор JXA 8100


          Рентгенографический анализ поликристаллов является одним из основных методов исследования состава и структуры твердотельных соединений. В ряде случаев он дает уникальную информацию о фазовом составе и строении вещества, которая не может быть получена с помощью других аналитических методов. Особенностью рентгенографического анализа является многоцелевая направленность данного метода, позволяющая осуществлять следующие виды исследования:
  • определение фазового состава многокомпонентных соединений;
  • вычисление концентраций фаз, входящих в исследуемый образец;
  • определение параметров кристаллической решетки;
  • определение степени кристаллического совершенства;
  • определение макроискажений.

          Этот метод позволяет:
  • проводить исследования особенностей изоморфных замещений в минералах;
  • решать вопросы упорядочения катионов в решетке;
  • заниматься экспериментальным моделированием физико-химических условий образования минералов, благородных металлов.

          Оборудование:
          Рентгендифракционные исследования проводятся на дифрактометре ДРОН-3 с монохроматизированным излучением. Для работы с небольшими количествами вещества, отдельными зернами минералов и монокристаллами используется ИРИС - источник рентгеновского излучения и камеры Дебая, Гандольфи. Для идентификации фаз используется программный комплекс PD Win, содержащий сведения о 75000 соединений.

Дифрактометр ДРОН-3

ИРИС

          Требования к пробам: для проведения рентенографических работ исследуемое вещество (0,5 - 0,05 г) истирается в пудру и наносится на специальные держатели. Отдельное зерно размером 0,1-0,2 мм может исследоваться в камере Гандольфи без растирания. Анализируемый материал не расходуется и может быть использован для дальнейших исследований.
          Рентгенфлуоресцентный анализ предназначен обеспечивать выполняемые в ДВГИ научные и прикладные программы и проекты по геологии, металлогении, технологии и экологии аналитическими данными по составу природных и техногенных веществ.
          Объекты анализа. В настоящее время сектор выполняет количественные определения концентраций W, Ta, Hf, Ba, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Zn, Mo, Ge, Re, Co, Ni,Fe в различных горных породах, рудах и минералах, в разнотипном минеральном сырье, рудных концентратах, в почвах, золах углей и т.д.
          В процессе работы за 2002 - 2003 год были разработаны методики рентгенофлуоресцентного анализа ряда микроэлементов (Ni, Co, Cr, V) и летучих компонентов (Cl, S, P) в базальтоидах.
          Оборудование:

          Рентгенофлуоресцентный сканирующий спектрометр VRA-30 (производства "Карл Цейс, Йена'', ГДР). Этот прибор является кристалл-дифракционным рентгеновским спектрометром по схеме Соллера с плоскими кристаллами LiF(220), LiF(200), PET, ADP, KAP, Si, RAP, Pb-stearate. VRA-30 позволяет определять в твердых (порошкообразных) и жидких пробах концентрации элементов от Na до U с пределом обнаружения 100 - 0,0005 % . Предел обнаружения зависит от определяемого элемента, наличия мешающих элементов и от матрицы пробы.

          Автоматический последовательный спектрометр S4 Pioneer (производство Bruker AXS GmbH, Германия), кристаллы позволяет определять в твердых (порошкообразных) и жидких пробах концентрации элементов от F до U с пределом обнаружения 100 - 0,0005 % . Предел обнаружения зависит от определяемого элемента, наличия мешающих элементов и от матрицы пробы. Прибор имеет платформу на 64 пробы и может работать в автоматическом режиме, без участия оператора. Максимальная автономность прибора обеспечивается автономным охладителем и источником бесперебойного питания.
          В комплект поставки входит программа полуколичественного анализа, программы количественного анализа разрабатываются сотрудниками лаборатории.

Рентгенофлуоресцентный сканирующий спектрометр VRA-30

Автоматический последовательный спектрометр S4 Pioneer

          Требования к пробам. Для исключения влияния неоднородности образцов на результаты определения концентраций анализируемый материал истирается в пудру или анализируются пластинки металлов диаметром 10-40 мм с гладкой и однородной поверхностью. Минимальная навеска пробы 5-10 грамм. Если концентрация элемента в образце намного превосходит предел обнаружения, то возможен анализ из меньшей навески. Анализируемый материал не расходуется и может быть использован для дальнейших исследований.
          Расчет концентраций ведется по описанным в литературе и разработанным в лаборатории методикам с использованием международных и отечественных стандартных образцов.

          Эмиссионный спектральный анализ
          В лаборатории проводится качественный, полуколичественный и количественный эмиссионный спектральный анализ горных пород и минералов. Качественный и полуколичественный анализ проводится на приборах PGS II или ДФС-8 испарением пробы в дуге переменного тока. Навеска пробы 30 мг, время анализа - 5 минут. Чувствительность метода 10-4 до 10-2 %.
PGS II

          Количественный анализ горных пород и минералов проводится по трем методикам:
  1. Анализ на 12 элементов одновременно (B, Ni, Co, Cr, V, Mo, Zn, Ga, Sn, Cu, Pb, Ag) проводится испарением 400 мг образца в дуге переменного тока.
    Чувствительность от 10-2 до 10-5 % с ошибкой от 10 до 25 %.
  2. Анализ элементов примесей (Ni, Co, Cr, V, Zr, Sc, Mn, Bi, In, Sb, Be, Y, Yb, Nb, Pb, Cd и др) проводится методом испарения от 10 до 100 мг пробы из канала в угольном электроде.
    Чувствительность от 10-2 до 10-5 с ошибкой от 6 до 30%.
  3. В самородном золоте из навески 15 мг определяются (As, Sb, Pb, Cu, Bi, Ni, Co, Pt, Mn, Zn, Fe, Pd, Te).
    Чувствительность и ошибка метода зависит от состава образца.


          КОНТАКТ

          Адрес: 690022 г.Владивосток, пр-т 100 лет Владивостоку, 159
          Телефон: 7(4232) 318056

          E-mail: Karabzov@fegi.ru

Copyright ©1997-2005 ДВГИ ДВО РАН
При полном или частичном использовании материалов ссылка на www.fegi.ru обязательна
webmaster@fegi.ru

h t t p : / / w w w . f e g i . r u




Яндекс.Метрика